Enertis Applus+ analiza la variabilidad del albedo para optimizar la rentabilidad de los módulos bifaciales

En colaboración con el Instituto de Tecnología Microelectrónica (TiM) de la Universidad del País Vasco (UPV/EHU), este estudio analiza la variabilidad del porcentaje de radiación reflejado por una superficie, el albedo, comparando la variabilidad del albedo registrado durante una campaña corta y periódica con las medidas obtenidas por satélite y los datos procedentes de campañas de medición de larga duración. Los resultados obtenidos en este estudio sugieren que dicha variabilidad no es completamente aleatoria y, en todos los métodos de medición analizados, se observa que ésta se incrementa considerablemente acercándose al solsticio. Como parte del estudio, Enertis Applus+ y el TiM (UPV/EHU) han desarrollado un modelo estadístico comparando las campañas de corta duración con las medidas satelitales y las medidas de larga duración.
Fuente: Energías Renovables
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